做可靠性試驗(yàn)首先必須選擇正確的試驗(yàn)方法：
為了正確評(píng)定產(chǎn)品質(zhì)量，必須采取合適的試驗(yàn)方法。在可靠性試驗(yàn)中我們發(fā)現(xiàn)，質(zhì)量相同的產(chǎn)品由于采用不同的試驗(yàn)方法，會(huì)得到不同的試驗(yàn)結(jié)果。有時(shí)甚至出現(xiàn)這樣的情況：不同廠家生產(chǎn)的質(zhì)量不同的產(chǎn)品，由于采用不同的試驗(yàn)方法，質(zhì)量水平本來高的產(chǎn)品，試驗(yàn)結(jié)果其質(zhì)量反而顯得低，而質(zhì)量水平低的產(chǎn)品，試驗(yàn)結(jié)果質(zhì)量反而顯得高。一個(gè)明顯的例子是鉭電解電容器。
鉭電解電容器的失效模式主要是短路或漏電流增大。其漏電流大小決定于氧化膜介質(zhì)層中某些雜質(zhì)處的填充有一些小穿孔。當(dāng)電容器加上電壓時(shí)，通過這些小孔的漏電流就形成很大的電流密度，加熱了Mn02，使之轉(zhuǎn)變?yōu)榈蛢r(jià)的氧化物（如Mn203)。此時(shí)通過疵點(diǎn)的電流就下降，即產(chǎn)生了 “自 愈”。如果疵點(diǎn)的尺寸較大，在疵點(diǎn)旁的氧化物加熱就會(huì)引起 無定形Ta205的結(jié)晶化，這樣就使通過疵點(diǎn)的電流雪崩上升， 即出現(xiàn)短路。在這個(gè)過程中，可能出現(xiàn)不穩(wěn)定的“自愈”現(xiàn) 象，也有可能使電容器在使用中被破壞而導(dǎo)致失效。是否出現(xiàn)失效與電路中串聯(lián)阻抗的大小有很大關(guān)系，如果試驗(yàn)線路的串聯(lián)阻抗高，則限制了回路電流的增大，也減輕了加在介質(zhì)膜上約電場(chǎng)應(yīng)力，緩和了有缺陷的產(chǎn)品的老化，而且能起緩慢的陚能作用，即對(duì)有質(zhì)量問題的產(chǎn)品起到保護(hù)作用。
因此，對(duì)鉭電容器做可靠性試驗(yàn)時(shí)，要采用阻抗小的線 路，統(tǒng)一規(guī)定這個(gè)阻抗值和電容器短路時(shí)試驗(yàn)回路的最小電流值。國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)及美軍標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定：由被測(cè)電容器接線端可測(cè)負(fù)荷電源內(nèi)阻不大于3Q，當(dāng)被測(cè)電容器短路時(shí)，電源應(yīng)能給出大于1A的電流。
